|
Metodologia cercetării: Analiza prin difracţie cu raze X (XRD) va permite identificarea fazelor cristaline şi analiza structurii globale a sistemelor investigate. Voltametria ciclică (VC) şi spectroscopia de impedanţă electrochimică (SIE) oferă informaţii privind proprietăţile electrochimice ale probelor folosite ca electrozi de lucru. Tehnica SANS - împrăștierii neutronilor la unghiuri mici oferă informații referitoare la heterogenitățile din materialul studiat, dimensiunea și forma nanoparticulelor încorporate în structura electrozilor studiați. De asemenea, tehnica SANS oferă informații despre microstructurile la nivel nanometric care se găsesc în material și anume dacă conțin: precipitate, cavități, domenii de fază, fluctuații ale densității, domenii magnetice, microfisuri sau dislocații. Tehnica SANS este importantă în dezvoltarea de modele de proces care oferă o caracterizare cantitativă a microstructurii și ”texturii” materialului studiat.
|
|
INCDTIM |
|
Fig. 1: Infrastructura de cercetare disponibilă la a) INCDTIM (Difractometru de raze X, XRD, Potentențiostat/Galvanostat pentru măsurători de Voltametrie Ciclică, VC şi Spectroscopie de Impedanță Electrochimică, SIE) și b) JINR (spectrometru de Împrăștiere la Unghiuri Mici cu Neutroni, SANS). |
