|
Metodologia cercetării: Analiza prin difracţie cu raze X (XRD) va permite identificarea fazelor cristaline şi analiza structurii globale a sistemelor investigate. Tehnica SANS - împrăștiere la unghiuri mici cu neutroni examinează microstructura și textura (mărimea, forma și orientarea componentelor) probele ceramice la scară nanometrică 1-100nm după compactizare, sinterizare și răcire. Din măsurătorile SANS se determină raza de girație a probei care reprezintă lungimea caracteristică a fazei prezente la nivel nanometric în proba ceramică. Comparativ cu analiza de difracție de raze X (XRD) care permite identificarea fazelor cristaline, tehnica SANS investigează tipurile de fluctuații ale compoziției ceramicii și separarea de fază la nivel nanometric. Dintr-un spectru SANS se poate determina mărimea nanofazei prezente în ceramică (natura cristalină sau amorfă) și distanța interparticlelor.
|
|
INCDTIM |
|
Fig. 1: Infrastructura de cercetare disponibilă la INCDTIM (difractometru de raze X, microscopie electronică de baleaj – SEM, spectrometru Infraroșu cu Transformată Fourier – FTIR, spectrometru UltraViolet-Vizibil – UV-Vis, spectrometru de fotoluminescență – PL, spectrometru de Rezonanță Electronică de Spin – RES) și la partenerii ruși – JINR (spectrometru SANS). |
